天津市拓普儀器
Tianjin Topu Instrument
服務(wù)熱線：022-88289916
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近代光學(xué)綜合實(shí)驗(yàn)是我公司專門為高等院校物理和光學(xué)實(shí)驗(yàn)室提供的實(shí)驗(yàn)基礎(chǔ)設(shè)備，能與本公司生產(chǎn)的多種調(diào)整架及光學(xué)器件配合使用。
高校基礎(chǔ)物理光學(xué)實(shí)驗(yàn)。包括：楊氏雙縫干涉等4項(xiàng)實(shí)驗(yàn)。
該實(shí)驗(yàn)都可以在光具座上完成。屬于“信息處理”方面的典型實(shí)驗(yàn)。實(shí)驗(yàn)結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，操作方便，圖象清晰逼真，適合于大學(xué)教學(xué)實(shí)驗(yàn)及科研實(shí)驗(yàn)。
該儀器具有良好的整體性特色，電源，光具座和存放調(diào)整架的工具箱有機(jī)的結(jié)合在了一起。使實(shí)驗(yàn)的安排和整理工作更加簡(jiǎn)潔和明晰。
該儀器具有良好的整體性特色、電源、光局座和存放調(diào)整架的工具箱有機(jī)結(jié)合在了一起。使實(shí)驗(yàn)的安排和整理工作更加簡(jiǎn)潔和明晰。
該儀器主要利用導(dǎo)軌、支架及光學(xué)組件、如雙棱鏡分成兩束光，將兩束光相遇產(chǎn)生的明暗相間的干涉條紋用讀數(shù)顯微鏡測(cè)出條紋間距
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